Morfolojik Analizler
Taramalı elektron mikroskobu (SEM; Scanning Electron Microscope, ZEISS-EVO MA10), odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobu türüdür.
Enerji dağıtıcı X-ışını spektroskopisi (EDX; Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy) analizi, bir numunenin elementel bileşimini elde etmek için kullanılır ve sadece SEM analizi ile sağlanandan daha nicel bir sonuç sağlar. SEM ve EDX analizlerinin kombinasyonu kimyasal bileşim ve temel araştırma sunar ve kapsamlı bir metalürjik değerlendirme sağlar.
Elektronlar numunedeki atomlarla etkileşerek numune yüzeyindeki topografi ve kompozisyon hakkında bilgiler içeren farklı sinyaller üretir. SEM’de görüntü oluşturmak için en çok, elektron demeti tarafından uyarılan numune atomlarının yaydığı ikincil elektronlardan faydalanılır.
SEM ile plastik polimerler, fiberler, parçacıklar (kum, çakıl, polen gibi), metaller, tekstiller gibi her türlü sıvı olmayan, iletken veya iletken olmayan numuneler incelenebilir. İletken olmayan numuneler çok ince iletken bir malzemeyle kaplanarak incelenebilir hale getirilebilir.
Biz de MecNano Technologies olarak Bilim Takımımız ile ürünlerinizin morfolojisini ve elemental bileşimini analiz ederek bilimsel bir rapor olarak sunuyoruz.
